光学仪器

体视显微镜 XTZ-FG 技术规格:
1.目镜筒:      三目镜筒 倾角45°  瞳距和屈光度可调
2.物镜筒:      360°定位  二侧手轮调节  可接配大物镜
3.放大倍率:    连续变倍:显微镜7~45×;图像系统20~130× (可扩展到 > 280×)
4.移动平台:    X-Y向移动范围70×50 mm  带玻璃载物台 (附:磨砂玻璃 / 黑白板)
5.升降范围:    120 mm
6.调焦范围:    80 mm
7.照明系统:    上下可调光照明 卤素灯20W / 6V
金相图象分析系统MiFas 光学仪器 送货时间:48小时内
标准价格:不详 OK17售价:洽询
简要说明:体视显微镜 XTZ-FG 技术规格: 1.目镜筒: 三目镜筒 倾角45° 瞳距和屈光度可调 2.物镜筒: 360°定位 二侧手轮调节 可接配大物镜 3.放大倍率: 连续变倍:显微镜7~45×;图像系统20~130× (可扩展到 > 280×) 4.移动平台: X-Y向移动范围70×50 mm 带玻璃载物台 (附:磨砂玻璃 / 黑白板) 5.升降范围: 120 mm 6.调焦范围: 80 mm 7.照明系统: 上下可调光照明 卤素灯20W / 6V
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产品用途
XPV-25系列透反射偏光显微镜是利用光的偏振特性对具有双折射性物质进行研究鉴定的必备仪器, 可供广大用户做单偏光观察,正交偏光观察,锥光观察。广泛应用于地质、化工、医疗、药品等领域的研究与检验,也可进行液态高分子材料,生物聚合物及液晶材料的晶相观察,是科研机构与高等院校进行研究与教学的理想仪器。

偏光显微镜XPV-25C 光学仪器 送货时间:48小时内
标准价格:不详 OK17售价:洽询
简要说明:产品用途 XPV-25系列透反射偏光显微镜是利用光的偏振特性对具有双折射性物质进行研究鉴定的必备仪器, 可供广大用户做单偏光观察,正交偏光观察,锥光观察。广泛应用于地质、化工、医疗、药品等领域的研究与检验,也可进行液态高分子材料,生物聚合物及液晶材料的晶相观察,是科研机构与高等院校进行研究与教学的理想仪器。
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用  途

HB-62.5型小负荷布氏硬度计采用精密机械技术和光电技术的新型维氏硬度计。该机采用微机控制,通过软件能调节测量光源的强弱,并能试验力保持时间,以LEG显示。该机采用独特的测量转换和测微目镜一次测量读数机构,使用方便,测量精度高。

小负荷布氏硬度计HB-62.5型 光学仪器 送货时间:48小时内
标准价格:不详 OK17售价:洽询
简要说明:用 途 HB-62.5型小负荷布氏硬度计采用精密机械技术和光电技术的新型维氏硬度计。该机采用微机控制,通过软件能调节测量光源的强弱,并能试验力保持时间,以LEG显示。该机采用独特的测量转换和测微目镜一次测量读数机构,使用方便,测量精度高。
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适用范围:热处理、碳化、淬火硬化层,表面覆层,钢,有色金属和微小及薄形零件等. 视频测量数显显微硬度计MHVS-2 光学仪器 送货时间:48小时内
标准价格:不详 OK17售价:洽询
简要说明:适用范围:热处理、碳化、淬火硬化层,表面覆层,钢,有色金属和微小及薄形零件等.
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适用范围:热处理、碳化、淬火硬化层,表面覆层,钢,有色金属和微小及薄形零件等.配备努氏压头后能测定玻璃、陶瓷、玛瑙、人造宝石等较脆而又硬材料的努氏硬度.

视频测量自动转塔显微硬度计MHV-2Z 光学仪器 送货时间:48小时内
标准价格:不详 OK17售价:洽询
简要说明:适用范围:热处理、碳化、淬火硬化层,表面覆层,钢,有色金属和微小及薄形零件等.配备努氏压头后能测定玻璃、陶瓷、玛瑙、人造宝石等较脆而又硬材料的努氏硬度.
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适用范围:热处理、碳化、淬火硬化层,表面覆层,钢,有色金属和微小及薄形零件等.配备努氏压头后能测定玻璃、陶瓷、玛瑙、人造宝石等较脆而又硬材料的努氏硬度.
电脑全功能显微硬度计HVST-2Z 光学仪器 送货时间:48小时内
标准价格:不详 OK17售价:洽询
简要说明:适用范围:热处理、碳化、淬火硬化层,表面覆层,钢,有色金属和微小及薄形零件等.配备努氏压头后能测定玻璃、陶瓷、玛瑙、人造宝石等较脆而又硬材料的努氏硬度.
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适用范围:热处理、碳化、淬火硬化层,表面覆层,钢,有色金属和微小及薄形零件等.
图像处理数显显微硬度计HVST-2 光学仪器 送货时间:48小时内
标准价格:不详 OK17售价:洽询
简要说明:适用范围:热处理、碳化、淬火硬化层,表面覆层,钢,有色金属和微小及薄形零件等.
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适用范围:热处理、碳化、淬火硬化层,表面覆层,钢,有色金属和微小及薄形零件等.

图像处理显微硬度计HVT-2 光学仪器 送货时间:48小时内
标准价格:不详 OK17售价:洽询
简要说明:适用范围:热处理、碳化、淬火硬化层,表面覆层,钢,有色金属和微小及薄形零件等.
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仪器可以选配显微硬度图像处理系统,在细微距离进行精密定位的多点测量、对表面处理后的硬化层(氧化层、渗层和镀层) 作深层的测试与分析,并由计算机对图像进行各种处理、编辑、保存和输出 (如打印等) 或进入多媒体系统及电子信箱。

HXD-1000T 光学仪器 送货时间:48小时内
标准价格:不详 OK17售价:洽询
简要说明:仪器可以选配显微硬度图像处理系统,在细微距离进行精密定位的多点测量、对表面处理后的硬化层(氧化层、渗层和镀层) 作深层的测试与分析,并由计算机对图像进行各种处理、编辑、保存和输出 (如打印等) 或进入多媒体系统及电子信箱。
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仪器免除了查表的麻烦,将测微目镜测得的对角线长度输入程序,即直接在LCD显示屏显示硬度值,并由内置打印机打印测量数据:最大值,最小值,分散度,平均值和均方差等。 

HX-1000TM/LCD 光学仪器 送货时间:48小时内
标准价格:不详 OK17售价:洽询
简要说明:仪器免除了查表的麻烦,将测微目镜测得的对角线长度输入程序,即直接在LCD显示屏显示硬度值,并由内置打印机打印测量数据:最大值,最小值,分散度,平均值和均方差等。
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仪器可以选配显微硬度图像处理系统,在细微距离进行精密定位的多点测量、对表面处理后的硬化层(氧化层、渗层和镀层) 作深层的测试与分析,并由计算机对图像进行各种处理、编辑、保存和输出 (如打印等) 或进入多媒体统及电子信箱。

HX-1000TM 光学仪器 送货时间:48小时内
标准价格:不详 OK17售价:洽询
简要说明:仪器可以选配显微硬度图像处理系统,在细微距离进行精密定位的多点测量、对表面处理后的硬化层(氧化层、渗层和镀层) 作深层的测试与分析,并由计算机对图像进行各种处理、编辑、保存和输出 (如打印等) 或进入多媒体统及电子信箱。
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主要特点:

采用无摩擦主轴结构,确保试验力稳定,测试精度高。 

采用微机技术、角位移传感技术于一体,实现试验过程、 硬度值显示、数据打印自动化。 

HVS-1000 光学仪器 送货时间:48小时内
标准价格:不详 OK17售价:洽询
简要说明:主要特点: 采用无摩擦主轴结构,确保试验力稳定,测试精度高。 采用微机技术、角位移传感技术于一体,实现试验过程、 硬度值显示、数据打印自动化。
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特 点: 
◆微机自动,C-T光路,2nm带宽(S54)
◆外型小巧、简洁、现代化
◆特低杂散光,优秀的紫外测光精度
◆设有RS233C串行口及并行打印口
◆可选配专用软件包,连接PC机后可扩展波长扫描、多点线性回归、1-3阶曲线拟合等功能
◆重量不超过9kg 紫外可见分光光度计S53/S54 光学仪器 送货时间:48小时内
标准价格:不详 OK17售价:洽询
简要说明:特 点: ◆微机自动,C-T光路,2nm带宽(S54) ◆外型小巧、简洁、现代化 ◆特低杂散光,优秀的紫外测光精度 ◆设有RS233C串行口及并行打印口 ◆可选配专用软件包,连接PC机后可扩展波长扫描、多点线性回归、1-3阶曲线拟合等功能 ◆重量不超过9kg
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特 点: 
◆标准RS232串行接口,可与PC机直接相连,应用软件界面简单易于上手
◆建模分析过程简单快速
◆实现对标物的快速无损检测
◆具有强大的建模分析软件
◆石油烷值、抗暴系数、EP值等的定量定性分析应用,整个分析过程只需1分种 近红外分光光度计S410 光学仪器 送货时间:48小时内
标准价格:不详 OK17售价:洽询
简要说明:特 点: ◆标准RS232串行接口,可与PC机直接相连,应用软件界面简单易于上手 ◆建模分析过程简单快速 ◆实现对标物的快速无损检测 ◆具有强大的建模分析软件 ◆石油烷值、抗暴系数、EP值等的定量定性分析应用,整个分析过程只需1分种
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荧光分析法比紫外-可见分光光度法灵敏度高 2 ~ 3 个数量级,能提供激发光谱、发射光谱、发光强度、发光寿命、量子产率、荧光偏振等许多信息,工作曲线线性范围宽,已成为一种重要的痕量分析方法。可广泛应用于:医学合临床检验中的生物体试料的临床分析;药学和药理学中的天然药物分析、药品质量控制和药物代谢的研究;生物化学中的生物体内微量物质的测定;食品工业中的食品中根两组分的测定;环保部门的大气污染、环境卫生、食品污染物研究;有机和无机化学中用吸光光度法不能测定的痕量组分分析等。 荧光分光光度计 光学仪器 送货时间:48小时内
标准价格:不详 OK17售价:洽询
简要说明:荧光分析法比紫外-可见分光光度法灵敏度高 2 ~ 3 个数量级,能提供激发光谱、发射光谱、发光强度、发光寿命、量子产率、荧光偏振等许多信息,工作曲线线性范围宽,已成为一种重要的痕量分析方法。可广泛应用于:医学合临床检验中的生物体试料的临床分析;药学和药理学中的天然药物分析、药品质量控制和药物代谢的研究;生物化学中的生物体内微量物质的测定;食品工业中的食品中根两组分的测定;环保部门的大气污染、环境卫生、食品污染物研究;有机和无机化学中用吸光光度法不能测定的痕量组分分析等。
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