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产品介绍

数显立式光学计JDG-S2

这是我厂最新研制的大量程、高精度的计量仪器。

本仪器是一种采用量块或标准零件与试件相比较的方式测量物体外形尺寸的仪器。主要用于五等精度量块，一级精度柱型规及各种圆柱形，球形，线形等物体的直径或板形物体的厚度的精密测量，对被测件作微小位移测量。亦可用来控制精密零件的加工。

技术参数

被测件最大长度     180 mm

直接测量范围       ≥10 mm

最小显示值       0.0001 mm

测量力             (2±0.2) N

最大不准确度       比较测量时：±0.00025 mm

                               直接测量时：0.0005mm

最大测量误差       ±(0.5+L/100) µm  L是被测长度,以mm

仪器体积          250X150X440mm

仪器重量           18kg

标准配件           可调带筋园台、可调园平台

                   平面测帽、平面测帽、小球面测帽、刃形测帽

电源标准

标准配置

标准配套

可选附件

标准证书